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扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓度数据的方法。
触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。
扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。
雷尼绍扫描测头独具特色的轻巧无电源机构(无马达或锁定机构)，具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接(无需通过测头机构中的叠加轴)测量测针的偏移量，以获得更高的精度和更快的动态响应。
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